绕组变形测试仪

产品特点简介

仪器自带个通道DDS信号输出作为扫频的激励信号；信号输出为正弦波，信号输出幅度可以软件调节，zui大幅度±5V，信号输出阻抗为50Ω

两个采集通道，个采集激励信号，个采集响应信号，用于计算传递函数

激励通道测量为固定量程：±5V；响应通道有 8档量程，在测量过程中自动调节量程，zui大输入信号为±25V

采集通道量化精度：12位

采集通道zui大静态误差：0.5%

每通道zui大存储容量：64K样点

每通道zui高采样率：20Msps 采集通道输入阻抗：1MΩ

扫频测量范围：1K－1MHz

扫描方式：采用线形分布的扫频测量方式

扫描频率精度：信号源输出正弦信号的频率精度不大于0.01%

扫频测量频点：1K－1MHz，测量点数1000点

符合国家电力行业标准：DL/T911-2004

检测原理：

在较高频率的电压作用下，变压器的每个绕组均可视为个由线性电阻、电感（互感）、电容等分布参数构成的无源线性双口网络，其内部特性可通过传递函数H（jω）描述。若绕组发生变形，绕组内部的分布电感、电容等参数必然改变，导致其等效网络传递函数H（jω）的零点和极点发生变化，使网络的频率响应特性发生变化。

　　变压器绕组的幅频响应特性采频率扫描方式获得。连续改变外施正弦波激励源VS的频率f（角频率ω=2πf），测量在不同频率下的响应端电压V2和激励端电压V1的信号幅值之比，获得激励端和响应端情况下绕组的幅频响应曲线。L、K及C分别代表绕组单位长度的分布电感、分布电容及对地分布电容，V1、V2分别为等效网络的激励端电压和响应端电压，VS为正弦波激励信号源电压，RS为信号源输出阻抗，R为匹配电阻。

技术参数
☆ 采集控制采用高速、高集成化微处理器。

☆ PC机与仪器之间USB通信接口。

☆ 硬件机芯采用DDS数字高速扫频技术（美国），通过测试可以准确诊断出绕组发生扭曲、鼓包、移位、倾斜、匝间短路变形及相间接触短路等故障。

☆ 高分辨dB值测量，双通道16位A/D（现场试验改变分接开关，即有明显输出变化）。

☆ 信号输出幅度可以软件调节，zui大幅度峰值±10V。

☆ 计算机将检测结果生成电子文档（WORD）

☆ 成品电路板,表面有特殊处理，具有抗水和有害气体污染。

☆ 笔记本电脑和测量仪器采用隔离电源供电，排除外界干扰。

绕组变形测试仪主要是通过检测变压器各个绕组的幅频响应特性，并对检测结果进行纵向或横向比较，根据幅频响应特性的变化程度，判断变压器可能发生的绕组变形。

因近年来变压器短路故障显现上升趋势，造成变压器绕组损坏的几率增加，严重威胁变压器的正常运行。我公司历经三年研究，开发出新代的变压器绕组变形测试仪；采用目前上zui的方法频率响应分析法（FRA）进行测试，是种测量变压器绕组频率响应的高灵敏度测试仪器（符合国家电力行业标准：DL/T911-2004《电力变压器绕组变形的频率响应分